Web of Science®
ФТИ в 2000–17 гг.
Статей 17168
Цитируемость
суммарная 176537
на статью 10.3
Индекс Хирша 131
G-индекс 215
Scopus®
ФТИ в 2000–17 гг.
Статей 18680
Цитируемость
суммарная 183144
на статью 9.8
Индекс Хирша 132
G-индекс 221
 

Основные достижения 2012 года

Перечень 

Оптические переходы в кремниевых нанокристаллах

Яссиевич,ИН; Прокофьев,АА; Москаленко,АС; Поддубный,АН; Гусев,ОБ
сектор теории оптических и электрических явлений в полупроводниках (Аверкиева,НС)
сектор теории квантовых когерентных явлений в твердом теле (Голуба,ЛЕ)
лаб. оптики полупроводников (Кусраева,ЮГ)

Развиты модели для теретического исследования нанокристаллов кремния на основе приближения эффективной массы и метода сильной связи. Они позволяют вычислять волновые функции и энергетические уровни электронов и дырок, вероятности оптических переходов, а также вероятности их многофононной релаксации.

Изучено влияние покрытия поверхности кремниевых нанокристаллов углеродом. Установлено, что появляются состояния, для которых распределение волновых функций электронов и дырок в координатном и импульсном пространствах кардинально меняется. В результате, было предсказано возрастание скорости излучательных переходов, что нашло подтверждение в недавних экспериментах с кремниевыми нанокристаллами, покрытыми алкальными цепями CH3-CH3-.

В ходе совместной работы с экспериментаторами из Университета Амстердама открыто новое явление — рождение двух экситонов в соседних нанокристаллах при поглощении одного кванта излучения с энергией больше удвоенной ширины запрещённой зоны.

Установлено, что в динамике горячих экситонов в нанокристаллах Si/SiO2существенную роль играет захват в метастабильное поверхностное состояние. Построена феноменологическая модель для такого автолокализованного экситона, которая позволила адекватно описать этот процесс.

Иллюстрации.

Схематическое изображение вида волновых функций электрона и дырки в обычном нанокристалле (слева) и покрытом углеродом (справа).
© 2005-17 разработка и сопровождение: ОНТИ ФТИ им. А.Ф. Иоффе
Яндекс.Метрика