Web of Science®
ФТИ в 2000–17 гг.
Статей 18293
Цитируемость
суммарная 195769
на статью 10.7
Индекс Хирша 138
G-индекс 225
Scopus®
ФТИ в 2000–17 гг.
Статей 20069
Цитируемость
суммарная 211601
на статью 10.5
Индекс Хирша 144
G-индекс 238
 

Патенты, полученные ФТИ

Название патента (фрагмент)
Номер патента
Год

Автор
 
Всего записей: 201, страниц: 41
Полупроводниковое переключающее устройство
Патент РФ #97006 от 20 августа 2010, тип: Полезная модель
Грехов,ИВ
Правообладатели: ФТИ имени А.Ф. Иоффе РАН
Авторы-сотрудники ФТИ: Грехов,ИВ
Подразделения: Грехова,ИВ
Туннельно-связанная полупроводниковая гетероструктура
Патент РФ #2396655 от 10 августа 2010, тип: Изобретение
Тарасов,ИС; Арсентьев,ИН; Винокуров,ДА; Пихтин,НА; Симаков,ВА; Коняев,ВП; Мармалюк,АА; Ладугин,МА
Правообладатели: ФТИ имени А.Ф. Иоффе РАН
Авторы-сотрудники ФТИ: Тарасов,ИС, Арсентьев,ИН, Винокуров,ДА, Пихтин,НА
Подразделения: Тарасова,ИС, Тарасова,ИС, Тарасова,ИС, Тарасова,ИС
Способ изготовления интегрированных Шоттки-pn диодов на основе карбида кремния
Патент РФ #2395868 от 27 июля 2010, тип: Изобретение
Грехов,ИВ; Иванов,ПА; Потапов,АС; Самсонова,ТП; Коньков,ОИ; Ильинская,НД
Правообладатели: ФТИ имени А.Ф. Иоффе РАН
Авторы-сотрудники ФТИ: Грехов,ИВ, Иванов,ПА, Потапов,АС, Самсонова,ТП, Коньков,ОИ, Ильинская,НД
Подразделения: Грехова,ИВ, Грехова,ИВ, Грехова,ИВ, Грехова,ИВ, Терукова,ЕИ, Иванова,СВ
Высоковольтный полупроводниковый прибор
Патент РФ #2395869 от 27 июля 2010, тип: Изобретение
Грехов,ИВ; Рожков,АВ
Правообладатели: ФТИ имени А.Ф. Иоффе РАН
Авторы-сотрудники ФТИ: Грехов,ИВ, Рожков,АВ
Подразделения: Грехова,ИВ, Тарасова,ИС
Способ для измерения размеров наночастиц и устройство для измерения спектров магнитного резонанса
Патент РФ # 2395448 от 27 июля 2010, тип: Изобретение
Бабунц,РА; Бадалян,АГ; Баранов,ПГ; Романов,НГ
Правообладатели: ФТИ имени А.Ф. Иоффе РАН
Авторы-сотрудники ФТИ: Бабунц,РА, Бадалян,АГ, Баранов,ПГ, Романов,НГ
Подразделения: Баранова,ПГ, Баранова,ПГ, Баранова,ПГ, Баранова,ПГ
firstback10prev 31 32 33 34 35 36 37 38 39 40 nextlast
© 2005-18 разработка и сопровождение: ОНТИ ФТИ им. А.Ф. Иоффе
Яндекс.Метрика