Web of Science®
ФТИ в 2000–17 гг.
Статей 18124
Цитируемость
суммарная 192962
на статью 10.6
Индекс Хирша 137
G-индекс 224
Scopus®
ФТИ в 2000–17 гг.
Статей 19878
Цитируемость
суммарная 207784
на статью 10.5
Индекс Хирша 143
G-индекс 236
 

Патенты, полученные ФТИ

Название патента (фрагмент)
Номер патента
Год

Автор
 
Всего записей: 191, страниц: 39
Способ тестирования чипов каскадных фотопреобразователей на снове соединений Al-Ga-In-As-P и устройство для его осуществления
Патент РФ #2384838 от 20 марта 2010, тип: Изобретение
Андреев,ВМ; Ащеулов,ЮВ; Малевский,ДА; Румянцев,ВД
Правообладатели: ФТИ имени А.Ф. Иоффе РАН
Авторы-сотрудники ФТИ: Андреев,ВМ, Ащеулов,ЮВ, Малевский,ДА, Румянцев,ВД
Подразделения: Андреева,ВМ, Луке Лопеса,АИ, Андреева,ВМ, Андреева,ВМ
Терагерцовый сканирующий зондовый микроскоп
Патент РФ #92172 от 10 марта 2010, тип: Полезная модель
Андрианов,АВ; Трухин,ВН
Правообладатели: ФТИ имени А.Ф. Иоффе РАН
Авторы-сотрудники ФТИ: Андрианов,АВ, Трухин,ВН
Подразделения: Берегулина,ЕВ, Берегулина,ЕВ
Оптический элемент модулятора
Патент РФ #92208 от 10 марта 2010, тип: Полезная модель
Акимов,АВ; Голубев,ВГ; Каплан,СФ; Певцов,АБ; Щербаков,АВ
Правообладатели: ФТИ имени А.Ф. Иоффе РАН
Авторы-сотрудники ФТИ: Акимов,АВ, Голубев,ВГ, Каплан,СФ, Певцов,АБ
Подразделения: Феофилова,СП, Голубева,ВГ, Голубева,ВГ, Голубева,ВГ
Двухсекционный лазер
Патент РФ #2383093 от 27 февраля 2010, тип: Изобретение
Портной,ЕЛ; Гаджиев,ИМ; Соболев,ММ; Бакшаев,ИО
Правообладатели: ФТИ имени А.Ф. Иоффе РАН
Авторы-сотрудники ФТИ: Портной,ЕЛ, Гаджиев,ИМ, Соболев,ММ, Бакшаев,ИО
Подразделения: Портного,ЕЛ, Портного,ЕЛ, Конникова,СГ, Портного,ЕЛ
Способ определения фотоэлектрических параметров высокоомных полупроводников
Патент РФ #2383081 от 27 февраля 2010, тип: Изобретение
Брюшинин,МА; Соколов,ИА
Правообладатели: ФТИ имени А.Ф. Иоффе РАН
Авторы-сотрудники ФТИ: Брюшинин,МА, Соколов,ИА
Подразделения: Кумзерова,ЮА, Кумзерова,ЮА
firstback10prev 31 32 33 34 35 36 37 38 39nextlast
© 2005-18 разработка и сопровождение: ОНТИ ФТИ им. А.Ф. Иоффе
Яндекс.Метрика