ФТТ, 2008, том 50, выпуск 8

 Содержание  Предыдущая статья  Следующая статья  Поиск   KOI  WIN  DOS 

Кристаллографические и динамические характеристики твердых растворов системы K1-xRbxTiOPO4 в области низких температур

А.У.Шелег, Е.М.Зуб, В.Г.Гуртовой, С.А.Гурецкий

Объединенный институт физики твердого тела и полупроводников Национальной академии наук Белоруссии,
220072 Минск, Белоруссия
E-mail: sheleg@ifttp.bas-net.by

(Поступила в Редакцию 18 декабря 2007 г.)

Рентгенографическим методом в интервале температур 90-320 K измерены параметры элементарной ячейки a и c кристаллов K1-xRbxTiOPO4 (x=0,0.3 и 0.5). Из полученных температурных зависимостей параметров определены коэффициенты теплового расширения вдоль основных кристаллографических осей. Установлено, что с ростом температуры значения параметра a растут, а параметра c уменьшаются. Ультразвуковым эхо-импульсным методом вдоль направлений [100] и [001] в интервале температур 100-350 K определены упругие модули c11 и c33 исследуемых кристаллов. Показано, что c33> c11. На температурных зависимостях исследованных характеристик в области T~280 K обнаружены аномалии, свидетельствующие о наличии фазового перехода. Установлено, что с увеличением x температура фазового перехода растет.

PACS: 65.40.De, 61.10.Nz, 61.66.Fn

 PDF версия (178Kb)   Другие выпуски  Другие журналы   Помощь 
Copyright (C) 2008, Коллектив авторов  Разработано...  webmaster