Diagnostics of high-resistivity GaAs wafers by microwave photoconductivity
2001 , Tech. Phys. Lett., v.27, 1
ISSN: 1063-7850

Страницы: 9 - 10
Авторы:Vlasenko,LS; Gorelenok,AT; Emtsev,VV; Kamanin,AV; Kokhanovskii,SI; Poloskin,DS; Shmidt,NM
Авторы (ФТИ):Vlasenko,LS; Gorelenok,AT; Emtsev,VV; Kamanin,AV; Kokhanovskii,SI; Poloskin,DS; Shmidt,NM
Подразделения:
DOI:http://dx.doi.org/10.1134/1.1345152 Scopus® times cited:2 Scopus® ID:2-s2.0-0035530818 Web of Science® times cited:4 Web of Science® ID:WOS:000166592900003
Полный текст:http://dx.doi.org/10.1134/1.1345152