Диагностика высокоомных пластин GaAs методом микроволновой фотопроводимости
2001 , Письма ЖТФ, т.27, 1
ISSN: 0320-0116

Страницы: 19 - 23
Авторы:Власенко,ЛС; Гореленок,АТ; Емцев,ВВ; Каманин,АВ; Кохановский,СИ; Полоскин,ДС; Шмидт,НМ
Авторы (ФТИ):Власенко,ЛС; Гореленок,АТ; Емцев,ВВ; Каманин,АВ; Кохановский,СИ; Полоскин,ДС; Шмидт,НМ
Подразделения: