Страницы: 303 - 305
Авторы:Maslov,VN; Krymov,VM; Blashenkov,MN; Golovatenko,AA; Nikolaev,VI
Авторы (ФТИ):Maslov,VN; Krymov,VM; Golovatenko,AA; Nikolaev,VI
Подразделения:

• лаб. физики полупроводниковых приборов (Лебедева,АА)
• лаб. физики профилированных кристаллов (Николаева,ВИ)

DOI:http://dx.doi.org/10.1134/S1063785014040075 Scopus® times cited:15 Scopus® ID:2-s2.0-84900823899 Web of Science® times cited:12 Web of Science® ID:WOS:000336032000008
Полный текст:http://dx.doi.org/10.1134/S1063785014040075