Номер статьи: #475301
Авторы:Kapaldo,J; Rouvimov,SS; Merz,JL; Oktyabrsky,S; Blundell,SA; Bert,NA; Brunkov,P; Kalyuzhnyy,NA; Mintairov,SA; Nekrasov,SV; Saly,RA; Vlasov,AS; Mintairov,AM
Авторы (ФТИ):Rouvimov,SS; Bert,NA; Brunkov,P; Kalyuzhnyy,NA; Mintairov,SA; Nekrasov,SV; Saly,RA; Vlasov,AS; Mintairov,AM
Подразделения:

• лаб. диагностики материалов и структур твердотельной электроники (Брункова,ПН)
• лаб. квантоворазмерных гетероструктур (Усикова,АА)
• лаб. фотоэлектрических преобразователей (Шварца,МЗ)

DOI:http://dx.doi.org/10.1088/0022-3727/49/47/475301 Scopus® times cited:17 Scopus® ID:2-s2.0-84997765013 Web of Science® times cited:17 Web of Science® ID:WOS:000404348300001
Полный текст:http://dx.doi.org/10.1088/0022-3727/49/47/475301