Diagnostic of semiconductor device structures by spin-labeled electrons
2018 , J. Phys.: Conf. Ser., v.1038, 1
International Conference PhysicA.SPb 2017; St. Petersburg, Russian Federation; 24-26 October 2017
ISSN: 1742-6588

В книге (сборнике): INTERNATIONAL CONFERENCE PhysicA.SPb 2017 Номер статьи: #012087
Авторы:Dzhioev,RI; Kotur,M; Poletaev,NK
Авторы (ФТИ):Dzhioev,RI; Kotur,M; Poletaev,NK
Подразделения: DOI:http://dx.doi.org/10.1088/1742-6596/1038/1/012087 Scopus® times cited:0 Scopus® ID:2-s2.0-85049535226 Web of Science® times cited:0 Web of Science® ID:WOS:000454825500087
Полный текст:http://dx.doi.org/10.1088/1742-6596/1038/1/012087