Spin-dependent recombination electron paramagnetic resonance spectroscopy of defects in irradiated silicon detectors
2003
, J. Appl. Phys., v.93, 12
ISSN: 0021-8979
Страницы:
9659 - 9664
Авторы:Eremin,V; Poloskin,DS; Verbitskaya,E; Vlasenko,MP; Vlasenko,LS; Laiho,R; Niinikoski,TO
Авторы (ФТИ):Eremin,V; Poloskin,DS; Verbitskaya,E; Vlasenko,MP; Vlasenko,LS
Подразделения:
DOI:http://dx.doi.org/10.1063/1.1576488
Scopus® times cited:9
Scopus® ID:2-s2.0-0037789232
Web of Science® times cited:9
Web of Science® ID:WOS:000183288900037
Полный текст:http://dx.doi.org/10.1063/1.1576488