Spin-dependent recombination electron paramagnetic resonance spectroscopy of defects in irradiated silicon detectors
2003 , J. Appl. Phys., v.93, 12
ISSN: 0021-8979

Страницы: 9659 - 9664
Авторы:Eremin,V; Poloskin,DS; Verbitskaya,E; Vlasenko,MP; Vlasenko,LS; Laiho,R; Niinikoski,TO
Авторы (ФТИ):Eremin,V; Poloskin,DS; Verbitskaya,E; Vlasenko,MP; Vlasenko,LS
Подразделения:
DOI:http://dx.doi.org/10.1063/1.1576488 Scopus® times cited:9 Scopus® ID:2-s2.0-0037789232 Web of Science® times cited:9 Web of Science® ID:WOS:000183288900037
Полный текст:http://dx.doi.org/10.1063/1.1576488