Номер статьи: #035304
Авторы:Kalitukha,IV; Kudlacik,D; Dimitriev,GS; Sapega,VF; Golovatenko,AA; Myasoedov,AV; Kirilenko,DA; Sitnikova,AA; Goupalov,SV; Yakovlev,DR; Onushchenko,AA; Bayer,M
Авторы (ФТИ):Kalitukha,IV; Dimitriev,GS; Sapega,VF; Golovatenko,AA; Myasoedov,AV; Kirilenko,DA; Sitnikova,AA; Yakovlev,DR
Подразделения:

• лаб. лазерных излучателей для компактных атомных сенсоров (Блохина,СА)
• лаб. спектроскопии твердого тела (Старухина,АН)
• лаб. спиновых и оптических явлений в полупроводниках (Кусраева,ЮГ)
• лаб. двумерных материалов для устройств микроэлектроники (Прасолова,НД)
• лаб. диагностики материалов и структур твердотельной электроники (Брункова,ПН)

DOI:https://doi.org/10.1103/8sp3-1xyc Scopus® times cited:0 Scopus® ID:2-s2.0-105021970300 Web of Science® times cited:1 Web of Science® ID:WOS:001539424800002
Полный текст:https://doi.org/10.1103/8sp3-1xyc