Тестирование диэлектрических покрытий для исследований элементарных флуктуаций заряда методами сканирующей кельвин-зонд микроскопии
2025 , ФТП, т.59, 6
Международная конференция ФизикА.СПб; Санкт-Петербург, Российская Федерация; 20-24 октября 2025
ISSN: 0015-3222

Страницы: 328 - 332
Авторы:Родин,ВД; Аксенов,ВЮ; Анкудинов,АВ; Большаков,ВО; Власов,АС; Жарова,ЮА; Илькив,ИВ; Левин,РВ; Малевская,АВ; Минтаиров,АМ
Авторы (ФТИ):Родин,ВД; Аксенов,ВЮ; Анкудинов,АВ; Большаков,ВО; Власов,АС; Жарова,ЮА; Левин,РВ; Малевская,АВ; Минтаиров,АМ
Подразделения:

DOI:https://doi.org/10.61011/FTP.2025.06.61955.8008
Полный текст:https://doi.org/10.61011/FTP.2025.06.61955.8008