Номер статьи: #045325
Авторы:Kalevich,VK; Merkulov,IA; Shiryaev,AY; Kavokin,KV; Ikezawa,M; Okuno,T; Brunkov,PN; Zhukov,AE; Ustinov,VM; Masumoto,Y
Авторы (ФТИ):Kalevich,VK; Merkulov,IA; Shiryaev,AY; Kavokin,KV; Brunkov,PN; Zhukov,AE; Ustinov,VM
Подразделения:

• лаб. диагностики материалов и структур твердотельной электроники (Брункова,ПН)
• лаб. физики полупроводниковых гетероструктур (Цацульникова,АФ)

DOI:http://dx.doi.org/10.1103/PhysRevB.72.045325 Scopus® times cited:27 Scopus® ID:2-s2.0-33749233617 Web of Science® times cited:28 Web of Science® ID:WOS:000230890300108
Полный текст:http://dx.doi.org/10.1103/PhysRevB.72.045325