Лаборатория квантоворазмерных гетероструктур
 English

Группа поверхностно-чуствительных методов анализа

Характеристика группы

Группа поверхностно-чувствительных методов анализа ФТИ им. А.Ф. Иоффе РАН была образована в 1990 г. Группа ведет исследования в области физических основ поверхностно-чуствительных методов анализа и методов их применения. Группа использует эти методы при исследованиях разнообразных твердотельных структур. Наряду с этим группа участвует в совместных исследованиях и разработках, которые ведут научные группы ФТИ им. А.Ф. Иоффе РАН, других академических институтов, университетов и коллективов предприятий в России и зарубежом, проводящих инновационные разработки.

Группа проводит диагностику и исследования тонких пленок, покрытий, разнообразных эпитаксиальных полупроводниковых структур, сформированных на основе систем SiGe, SiC, Si:Er, соединений III-V вида (AlGa)As, (InGa)(AsP), (InGa)(AsSb), (InAlGa)N, соединений II-VIs, различных микро- и оптоэлектронных структур (светодиодов, гетеролазеров, фотоприемников, солнечных элементов, структур с квантовыми ямами и с дельта-легированием и т.п.), структур металл-полупроводник.

Анализ поверхности, гетерограниц, исследование распределения по глубине структруы основных химических элементов и примесей проводится методами вторично-ионной масс-спектрометрии, рентгеновской и ультрафиолетовой фотоэлектронной спектроскопией, оже-электронной спектроскопией и спектроскопией характеристических потерь электронов.

Оборудование

В распоряжении группы находится современное оборудование:
  • Вторично-ионные масс-спектрометры IMS 4f и IMS 7f фирмы CAMECA, оснащенные источниками кислорода и цезия,
  • Универсальный электронный спектрометр PHI 5500 фирмы Physical Electronics, оснащенный полусферическим анализатором с многоканальным детектором, источниками рентгеновского излучения, двуханодным Mg/Al и монохроматизованным AlKα, сканирующими электронной и ионной пушками.

Группа поверхностно-чувствительных методов анализа ФТИ им. А.Ф. Иоффе РАН является членом Северо-Западного регионального центра коллективного пользования научным оборудованием "Материаловедение и диагностика в передовых технологиях".

Контакт:

    Б.Я. Бер, руководитель группы поверхностно-чувствительных методов анализа
    Центр физики наногетероструктур
    ФТИ им. А.Ф. Иоффе РАН,
    ул. Политехническая, д. 26,
    Санкт-Петербург 194021,
    Россия
    тел. (812) 292-7362
    факс (812) 297-1017
    эл. почта: boris.ber@mail.ioffe.ru