Web of Science®
ФТИ в 2000–20 гг.
Статей 22316
Цитируемость
суммарная 275070
на статью 12.3
Индекс Хирша 159
G-индекс 266
Scopus®
ФТИ в 2000–20 гг.
Статей 24171
Цитируемость
суммарная 286966
на статью 11.9
Индекс Хирша 167
G-индекс 276
Основные достижения
Отчет ФТИ 2020
 

Основные достижения 2019 года

Перечень 

Управление проводимостью InхGa1-хAs нитевидных нанокристаллов с помощью механической деформации

Алексеев,ПА; Шаров,ВА; Дунаевский,МС; Кириленко,ДА; Берковиц,ВЛ
лаб. оптики поверхности (Берковица,ВЛ)
лаб. диагностики материалов и структур твердотельной электроники (Брункова,ПН)

Предложен и экспериментально подтвержден новый механизм, позволяющий менять проводимость InхGa1-хAs нитевидных нанокристаллов (ННК) на несколько порядков с помощью механической деформации. В рассматриваемых III-As ННК при х 0.85 проводимость сильно ограничена из-за фиксации уровня Ферми на поверхности атомами избыточного мышьяка и формирования приповерхностного обедненного слоя. При деформации смещение края зоны проводимости до уровня Ферми и ниже должно вызывать сильный рост проводимости ННК вследствие образования поверхностного проводящего канала. Предсказанный эффект наблюдается особенно ярко на In0.85Ga0.15As ННК, проводимость которых вырастает на три порядка при механической деформации ~ 4%. Подобное увеличение при данных уровнях деформации является рекордным, что позволит разработать сверхчувствительные тензорезисторы и сенсоры на основе III-As ННК.

Иллюстрации

Рис. 1. Слева — схема измерений вольт-амперных кривых ННК с помощью проводящего зонда атомно-силового микроскопа. При этом деформация ННК осуществляется смещением зонда вдоль поверхности подложки. Справа — вольт-амперные кривые, измеренные для In0.85Ga0.15As ННК в отсутствие деформации, и при деформации 4%.

Публикации

  1. P. A. Alekseev, V. A. Sharov, M. S. Dunaevskiy, D. A. Kirilenko, I. V. Ilkiv, R. R. Reznik, G, E. Cirlin, and V. L. Berkovits ?Control of Conductivity of In x Ga1-x As Nanowires by Applied Tension and Surface States? Nano Lett. 19, 4463 (2019)
Яндекс.Метрика
© 2005–2020 разработка и сопровождение: ОНТИ ФТИ им. А.Ф. Иоффе