Web of Science® | |
---|---|
ФТИ в 200022 гг. | |
Статей | 25425 |
Цитируемость | |
суммарная | 326761 |
на статью | 12,9 |
Индекс Хирша | 169 |
G-индекс | 286 |
Scopus® | |
---|---|
ФТИ в 200022 гг. | |
Статей | 28655 |
Цитируемость | |
суммарная | 364193 |
на статью | 12,7 |
Индекс Хирша | 180 |
G-индекс | 304 |
9 июня 2025 г. в стенах ФТИ им. А.Ф. Иоффе прошла научно-техническая конференция «Надёжность полупроводниковых лазеров и приборов на их основе. Современные методы повышения надёжности» организованная Институтом и компанией ООО «Остек-ЭК».
Конференция содержала как научные доклады, так и вопросы масштабирования научных достижений, внедрение разработанных подходов и методик в массовое производство. Активно обсуждались возможные форматы взаимодействия между научными лабораториями, представителями производства, организациями, предоставляющими высокотехнологичное оборудование, и конечными потребителями.
Спикерами на конференции являлись ведущие специалисты ФТИ им. А.Ф. Иоффе, ООО «Остек-ЭК», АО «ЗНТЦ», Сколтех и ООО «ИННФОКУС».
Организаторы конференции в лице фирмы ООО «Остек-ЭК» и лаборатории полупроводниковой люминесценции и инжекционных излучателей (зав. лаб. Пихтин Н.А.) надеются на продолжение данного формата конференции и создания регулярных встреч.