Web of Science® | |
---|---|
ФТИ в 200022 гг. | |
Статей | 25425 |
Цитируемость | |
суммарная | 326761 |
на статью | 12,9 |
Индекс Хирша | 169 |
G-индекс | 286 |
Scopus® | |
---|---|
ФТИ в 200022 гг. | |
Статей | 28655 |
Цитируемость | |
суммарная | 364193 |
на статью | 12,7 |
Индекс Хирша | 180 |
G-индекс | 304 |
Определена функциональная зависимость площади полевой эмиссии в виде степенной функции от приложенного напряжения и формы поверхности эмиттера [1]. Разработаны новые координаты "k-power plot" для обработки вольтамперных характеристик полевых эмиттеров основных геометрических форм (полусфера на цилиндрическом основании, полуэллипсоид вращения, полусфера на конусе). Предложенный метод извлечения основных эмиссионных параметров путем обработки вольтамперных характеристик вольфрамовых одноострийных полевых эмиттеров позволил в несколько (раз сравнению со стандартными методами обработки в координатах Фаулера-Нордгейма и Мерфи-Гуда) увеличивать точность определения площади эмиссии во всем диапазоне эмиссионных полей [2]. Для увеличения токовой стабильности полевых эмиттеров заданной формы вершины в составе массива остриев разработан критерий распределения токовой нагрузки между ними. Найден оптимальный профиль массива наноэмиттеров, распределение высот которых позволяет успешно бороться с краевыми эффектами, на порядок увеличивая стабильность полевой эмиссии [3].
Иллюстрации
Работа выполнена в рамках Государственного задания, тема № 0040-2019-0024.
Направление ПФНИ 1.3.2.11.
Публикации