Название:	Экспериментальный и теоретический анализ трехволновой дифракции в сильнонарушенных эпитаксиальных системах
Грантодатель:	РФФИ
Область знаний:	02 ФИЗИКА И АСТРОНОМИЯ
Научная дисциплина:	2-211 Взаимодействие рентгеновского, синхротронного излучений и нейтронов с конденсированным веществом 02-204 Поверхность и тонкие пленки 02-205 Нано- и микроструктуры
Ключевые слова:	Рентгеновская дифракция, трехволновая дифракцмя, пики Реннингера, кристаллы, поверхностные слои, дислокации, кинематическая теория
Тип:	исследовательский
Руководитель(и):	Ратников,ВВ
Подразделения:	лаб. дифракционных методов исследования реальной структуры кристаллов (Аргуновой,ТС)
Код проекта:	16-02-00702 А
Финансирование 2016-18 г.:	2 100 000
Исполнители:	Кютт,РН: лаб. дифракционных методов исследования реальной структуры кристаллов (Аргуновой,ТС) Щеглов,МП: лаб. дифракционных методов исследования реальной структуры кристаллов (Аргуновой,ТС) Калмыков,АЕ: лаб. дифракционных методов исследования реальной структуры кристаллов (Аргуновой,ТС) Мясоедов,АВ: лаб. дифракционных методов исследования реальной структуры кристаллов (Аргуновой,ТС) Антонова,ТМ: лаб. дифракционных методов исследования реальной структуры кристаллов (Аргуновой,ТС) Аргунова,ТС: лаб. дифракционных методов исследования реальной структуры кристаллов (Аргуновой,ТС)

На основе предварительных чисто экспериментальных измерений трехволновых пиков по схеме Реннингера в эпитаксиальных пленках III-ниридов был установлен ряд эмпирических закономерностей поведения трехволноой дифракции в сильно искаженных структурах. Многие из них не получили должного физического объяснения. В настоящей работе будет выполнен более всеобъемлющий анализ, включая в себя на только новые эмпирические наблюдения, но и физическую и теоретическую трактовку свойств трехволновой дифракционной картины. В частности, теоретическое рассмотрение будет основано на предлагаемой обобщенной трактовке геометрической теории окольного возбуждения Реннингера, учитывающей форму узлов обратной решетки, связанной с конкретными системами дислокаций. Предполагаются также измерения флюоресцентного излучения, а также рентгенотопографические и электронно-микроскопические исследования дефектов, влияющих на картину трехволновой дифракции.