| Web of Science® | |
|---|---|
| ФТИ в 2000–24 гг. | |
| Статей | 25425 |
| Цитируемость | |
| суммарная | 326761 |
| на статью | 12,9 |
| Индекс Хирша | 169 |
| G-индекс | 286 |
| Scopus® | |
|---|---|
| ФТИ в 2000–24 гг. | |
| Статей | 28655 |
| Цитируемость | |
| суммарная | 364193 |
| на статью | 12,7 |
| Индекс Хирша | 180 |
| G-индекс | 304 |
| Название: | Диагностика элементов и устройств наноэлектроники методами сканирующей зондовой микроскопии |
| Грантодатель: | Президиум РАН |
| Тип: | исследовательский |
| Руководитель(и): | Анкудинов,АВ |
| Подразделения: | |
| Код проекта: | 27.1.6.1 |