| Web of Science® | |
|---|---|
| ФТИ в 2000–22 гг. | |
| Статей | 25425 |
| Цитируемость | |
| суммарная | 326761 |
| на статью | 12,9 |
| Индекс Хирша | 169 |
| G-индекс | 286 |
| Scopus® | |
|---|---|
| ФТИ в 2000–22 гг. | |
| Статей | 28655 |
| Цитируемость | |
| суммарная | 364193 |
| на статью | 12,7 |
| Индекс Хирша | 180 |
| G-индекс | 304 |
Академик РАН
Р.А. Сурис
1936-2024
MICROELECTRONICS RELIABILITY
| URL: | http://www.elsevier.com/wps/find/journaldescription.cws_home/274/description#description |
| Сокращенное название по стандарту ISO: | Microelectron. Reliab. |
| Сокращенное название по стандарту JCR: | MICROELECTRON RELIAB |
| Subject Category: | Engineering, Electrical & Electronic |
| Издательство: | PERGAMON-ELSEVIER SCIENCE LTD |
| Год основания: | 1962 |
| Количество публикаций сотрудников института: | 11 |
| ISSN print: | 0026-2714 |
| Импакт-фактор | Квартиль | Год |
|---|---|---|
| 0.362 | 2000 | |
| 0.548 | 2001 | |
| 0.593 | 2002 | |
| 0.647 | 2003 | |
| 0.607 | 2004 | |
| 0.724 | 2005 | |
| 0.815 | 2006 | |
| 1.011 | 2007 | |
| 1.290 | 2008 | |
| 1.117 | 2009 | |
| 1.066 | 2010 | |
| 1.167 | 2011 | |
| 1.137 | 2012 | |
| 1.214 | 2013 | |
| 1.433 | 2014 | |
| 1.202 | 2015 | |
| 1.371 | Q3 | 2016 |
| 1.236 | Q3 | 2017 |
| 1.483 | Q3 | 2018 |
| 1.535 | Q3 | 2019 |
| 1.589 | Q3 | 2020 |
| 1.418 | Q4 | 2021 |
| 1.6 | Q4 | 2022 |
| 1.6 | 2023 | |
| 2024 | ||
| 2025 |
| Количество публикаций сотрудников института | Год |
|---|---|
| 1 | 2000 |
| 1 | 2001 |
| 0 | 2002 |
| 0 | 2003 |
| 1 | 2004 |
| 0 | 2005 |
| 1 | 2006 |
| 1 | 2007 |
| 0 | 2008 |
| 0 | 2009 |
| 1 | 2010 |
| 1 | 2011 |
| 1 | 2012 |
| 0 | 2013 |
| 0 | 2014 |
| 1 | 2015 |
| 0 | 2016 |
| 0 | 2017 |
| 0 | 2018 |
| 0 | 2019 |
| 0 | 2020 |
| 2 | 2021 |
| 0 | 2022 |
| 0 | 2023 |
| 0 | 2024 |
| 0 | 2025 |
| 0 | 2026 |