| Web of Science® | |
|---|---|
| ФТИ в 2000–24 гг. | |
| Статей | 25425 |
| Цитируемость | |
| суммарная | 326761 |
| на статью | 12,9 |
| Индекс Хирша | 169 |
| G-индекс | 286 |
| Scopus® | |
|---|---|
| ФТИ в 2000–24 гг. | |
| Статей | 28655 |
| Цитируемость | |
| суммарная | 364193 |
| на статью | 12,7 |
| Индекс Хирша | 180 |
| G-индекс | 304 |
Surface gettering of background impurities and defects in GaAs wafers
2001
, Semiconductors, v.35, 2
ISSN: 1063-7826
Страницы:
177 - 180
Авторы:Vlasenko,LS; Gorelenok,AT; Emtsev,VV; Kamanin,AV; Poloskin,DS; Shmidt,NM
Авторы (ФТИ):Vlasenko,LS; Gorelenok,AT; Emtsev,VV; Kamanin,AV; Poloskin,DS; Shmidt,NM
Подразделения: DOI:http://dx.doi.org/10.1134/1.1349927 Scopus® times cited:7 Scopus® ID:2-s2.0-0035255495 Web of Science® times cited:7 Web of Science® ID:WOS:000166713200012
Полный текст:http://dx.doi.org/10.1134/1.1349927
Авторы:Vlasenko,LS; Gorelenok,AT; Emtsev,VV; Kamanin,AV; Poloskin,DS; Shmidt,NM
Авторы (ФТИ):Vlasenko,LS; Gorelenok,AT; Emtsev,VV; Kamanin,AV; Poloskin,DS; Shmidt,NM
Подразделения: DOI:http://dx.doi.org/10.1134/1.1349927 Scopus® times cited:7 Scopus® ID:2-s2.0-0035255495 Web of Science® times cited:7 Web of Science® ID:WOS:000166713200012
Полный текст:http://dx.doi.org/10.1134/1.1349927