Identification of a paramagnetic recombination center in silicon/silicon-dioxide interface
2012
, Appl. Phys. Lett., v.100, 15
ISSN: 0003-6951
Номер статьи:
#152107
Авторы:Matsuoka,T; Vlasenko,LS; Vlasenko,MP; Sekiguchi,T; Itoh,KM
Авторы (ФТИ):Vlasenko,LS; Vlasenko,MP
Подразделения: DOI:http://dx.doi.org/10.1063/1.3702785 Scopus® times cited:13 Scopus® ID:2-s2.0-84859802669 Web of Science® times cited:11 Web of Science® ID:WOS:000303128000032
Полный текст:http://dx.doi.org/10.1063/1.3702785
Авторы:Matsuoka,T; Vlasenko,LS; Vlasenko,MP; Sekiguchi,T; Itoh,KM
Авторы (ФТИ):Vlasenko,LS; Vlasenko,MP
Подразделения: DOI:http://dx.doi.org/10.1063/1.3702785 Scopus® times cited:13 Scopus® ID:2-s2.0-84859802669 Web of Science® times cited:11 Web of Science® ID:WOS:000303128000032
Полный текст:http://dx.doi.org/10.1063/1.3702785















