| Web of Science® | |
|---|---|
| ФТИ в 2000–24 гг. | |
| Статей | 25425 |
| Цитируемость | |
| суммарная | 326761 |
| на статью | 12,9 |
| Индекс Хирша | 169 |
| G-индекс | 286 |
| Scopus® | |
|---|---|
| ФТИ в 2000–24 гг. | |
| Статей | 28655 |
| Цитируемость | |
| суммарная | 364193 |
| на статью | 12,7 |
| Индекс Хирша | 180 |
| G-индекс | 304 |
Diagnostic of semiconductor device structures by spin-labeled electrons
2018
, J. Phys.: Conf. Ser., v.1038, 1
International Conference PhysicA.SPb 2017; St. Petersburg, Russian Federation; 24-26 October 2017
ISSN: 1742-6588
В книге (сборнике):
INTERNATIONAL CONFERENCE PhysicA.SPb 2017
Номер статьи:
#012087
Авторы:Dzhioev,RI; Kotur,M; Poletaev,NK
Авторы (ФТИ):Dzhioev,RI; Kotur,M; Poletaev,NK
Подразделения: DOI:http://dx.doi.org/10.1088/1742-6596/1038/1/012087 Scopus® times cited:0 Scopus® ID:2-s2.0-85049535226 Web of Science® times cited:0 Web of Science® ID:WOS:000454825500087
Полный текст:http://dx.doi.org/10.1088/1742-6596/1038/1/012087
Авторы:Dzhioev,RI; Kotur,M; Poletaev,NK
Авторы (ФТИ):Dzhioev,RI; Kotur,M; Poletaev,NK
Подразделения: DOI:http://dx.doi.org/10.1088/1742-6596/1038/1/012087 Scopus® times cited:0 Scopus® ID:2-s2.0-85049535226 Web of Science® times cited:0 Web of Science® ID:WOS:000454825500087
Полный текст:http://dx.doi.org/10.1088/1742-6596/1038/1/012087