| Web of Science® | |
|---|---|
| ФТИ в 2000–24 гг. | |
| Статей | 25425 |
| Цитируемость | |
| суммарная | 326761 |
| на статью | 12,9 |
| Индекс Хирша | 169 |
| G-индекс | 286 |
| Scopus® | |
|---|---|
| ФТИ в 2000–24 гг. | |
| Статей | 28655 |
| Цитируемость | |
| суммарная | 364193 |
| на статью | 12,7 |
| Индекс Хирша | 180 |
| G-индекс | 304 |
Detection of paramagnetic recombination centers on the surface of silicon wafers
2024
, Semiconductors, v.58, 5
ISSN: 1063-7826
Страницы:
243 - 248
Авторы:Vlasenko,LS
Авторы (ФТИ):Vlasenko,LS
Подразделения: DOI:https://doi.org/10.61011/SC.2024.05.59173.6715
Полный текст:https://doi.org/10.61011/SC.2024.05.59173.6715
Авторы:Vlasenko,LS
Авторы (ФТИ):Vlasenko,LS
Подразделения: DOI:https://doi.org/10.61011/SC.2024.05.59173.6715
Полный текст:https://doi.org/10.61011/SC.2024.05.59173.6715