| Web of Science® | |
|---|---|
| ФТИ в 2000–24 гг. | |
| Статей | 25425 |
| Цитируемость | |
| суммарная | 326761 |
| на статью | 12,9 |
| Индекс Хирша | 169 |
| G-индекс | 286 |
| Scopus® | |
|---|---|
| ФТИ в 2000–24 гг. | |
| Статей | 28655 |
| Цитируемость | |
| суммарная | 364193 |
| на статью | 12,7 |
| Индекс Хирша | 180 |
| G-индекс | 304 |
Dielectric coatings for elementary charge fluctuation studies testing with Kelvin probe microscopy
2025
, Semiconductors, v.59, 6
International Conference PhysiсA.SPb; St. Petersburg, Russia; 20-24 October 2025
ISSN: 1063-7826
Страницы:
304 - 308
Авторы:Rodin,VD; Aksenov,VYu; Ankudinov,AV; Bolshakov,VO; Vlasov,AS; Zharova,YuA; Ulkiv,IV; Levin,RV; Malevskaya,AV; Mintairov,AM
Авторы (ФТИ):Rodin,VD; Aksenov,VYu; Ankudinov,AV; Bolshakov,VO; Vlasov,AS; Zharova,YuA; Levin,RV; Malevskaya,AV; Mintairov,AM
Подразделения: DOI:https://doi.org/10.61011/SC.2025.06.62054.8008
Полный текст:https://doi.org/10.61011/SC.2025.06.62054.8008
Авторы:Rodin,VD; Aksenov,VYu; Ankudinov,AV; Bolshakov,VO; Vlasov,AS; Zharova,YuA; Ulkiv,IV; Levin,RV; Malevskaya,AV; Mintairov,AM
Авторы (ФТИ):Rodin,VD; Aksenov,VYu; Ankudinov,AV; Bolshakov,VO; Vlasov,AS; Zharova,YuA; Levin,RV; Malevskaya,AV; Mintairov,AM
Подразделения: DOI:https://doi.org/10.61011/SC.2025.06.62054.8008
Полный текст:https://doi.org/10.61011/SC.2025.06.62054.8008