Название:Исследование микронеоднородности в кристаллах методом фазово-контрастного изображения на просвет в синхротронном излучении
Грантодатель:РФФИ
Область знаний:26-912 Фундаментальные проблемы структурной диагностики функциональных материалов с применением источников синхротронного излучения с ультрамалым эмиттансом
Научная дисциплина:02-211 Взаимодействие рентгеновского, синхротронного излучений и нейтронов с конденсированным веществом 02-212 Образование и структура кристаллов
Ключевые слова:синхротронное излучение, фазовый контраст, изображение, компьютерное моделирование, монокристаллы, микронеоднородность, дефекты структуры, дифракционные методы, высокое разрешение
Тип:исследовательский
Руководитель(и):Аргунова,ТС
Подразделения:
Код проекта:19-29-12041
Финансирование 2019-21 г.:9 000 000
Исполнители: Щеглов,МП: лаб. дифракционных методов исследования реальной структуры кристаллов (Аргуновой,ТС)
Мясоедов,АВ: лаб. дифракционных методов исследования реальной структуры кристаллов (Аргуновой,ТС)
Мартюшов,СЮ: None
Гудкина,ЖВ: лаб. дифракционных методов исследования реальной структуры кристаллов (Аргуновой,ТС)
Павлов,ИС: None
Кристаллизация материалов, предназначенных для использования в электронной технике, сталкивается с проблемой микронеоднородности их внутренней структуры. Полную картину с изображением пор, включений и трещин микронного размера в объеме кристаллов можно получить методом фазово-контрастного изображения объектов на просвет в синхротронном излучении. Проект нацелен на изучение проблем количественной визуализации микронеоднородностей в кристаллах с использованием рентгеновского фазового контраста. Решение научных задач проекта обеспечит новую количественную фазово-контрастную технологию для диагностики и исследования технически важных монокристаллов. Количественный подход будет применен совместно с дифракционными методами высокого разрешения для изучения таких сложных для получения материалов как полупроводниковый карбид кремния, нитриды и оксиды Al и Ga. Междисциплинарный характер исследования позволит решить конкретные проблемы материаловедения: добиться однородности в микромасштабе, снизить плотность дефектов структуры и достичь более ясного понимания процессов, приводящих к их формированию. Фундаментальные результаты, касающиеся фазово-контрастной визуализации, внесут существенный вклад в решение практической задачи развития отечественного производства оптоэлектронных приборов ультрафиолетового диапазона.